SOC720SW短波红外成像光谱仪900~1700nm
|
 |
最后更新：2013-01-05
关 注 度：2591
生产企业：北京安洲科技有限公司
|
|
|
 与企业联系时请告知该信息来自教育装备网！ |
|
|
产品详细介绍
SOC720SW 短波红外成像光谱仪是一款高质量、高性能的仪器，光谱范围为900nm～1700nm。
SOC720SW具有高光谱分辨率 (6.25 nm), 轻度光谱失真 (<1.5 nm)成像分光计和高灵敏度的InGaAs 探测器 (D* = 1.5e13 √cm-Hz/W)，使得SOC720SW可以14-bit同时收集640像素、128个波段的光谱信息。这保证了所有应用里，获得的是最高质量数据。
使用简单和实时处理
SOC720SW是一个完整的系统，开箱之后即可使用。
系统采用SOC的HyperSpect™ 操作软件和HSAnalysis™校准和分析工具进行标定和使用前设置。
数据以开放的BIL二进制格式保存，可以兼容第三方分析软件。无需额外的扫描仪或软件。
可选的SOC MIDIS™处理器以最优的电脑速度快速执行光谱处理，克服了大部分成像光谱仪在实时数据处理方面的瓶颈。
MIDIS处理器具有多个相关通道同时监测测量数据和三光谱积分，使得MIDIS处理器有能力克服当今数据处理的难题。
配备了一个高质量的成像分光计、标定和分析软件、高速低噪InGaAs线列和完整的扫描系统，SOC-720SW通过高速Camera-Link接口可以记录900nm到1700nm光谱范围内、6.25nm分辨率的高质量光谱成像数据。灵敏度高于1.5x1013cmHz/W（1550nm）。
SOC的HS分析软件可以用来进行标定和数据分析。记录的数据格式为开放式的二进制数据，可以很容易的用第三方分析软件打开，如ENVI软件。无须数据格式转换。
技术参数：
光谱范围： 900-1700 nm
光谱分辨率： 6.25 nm
光谱通道： 128
光谱失真： <1.5 microns (smile)
数字光圈： F/2.4
TFOV/IFOV (35MM)： 10°/0.015625°
分辨率(像素)： 640x640 (nominal)
LINE RATE： 30 Spatial Lines/Second
CUBE RATE： 20 Seconds/Cube
数字分辨率： 14-bit
三脚架： 3/8”-16
计算机接口： Cameral-Link
扫描： 内置
供电： AC/12DV
重量： 30 lbs.
尺寸： 7”x14”x22”
应用领域：
机械视觉
电子学和塑胶
晶片检查
农业品质
化学过程控制
农业领域
精准农业
土地分类
水份胁迫
作物健康 温度记录
火点监测
玻璃检测
金属纯度
军事
ISR
边境安全
导弹跟踪
医学领域
血糖分析
X线断层摄影术
|
|
| 会员级别：免费会员 |
| 加入时间：2010-09-27
|
|
|
在线客服
