 |
折 扣 率: 0
最后更新:2025-12-10
關(guān) 注 度:7
生產(chǎn)企業(yè):屹持光子信息科技(上海)有限公司
|
|
|
與企業(yè)聯(lián)系時請告知該信息來自教育裝備網(wǎng)! |
|
|
產(chǎn)品詳細介紹法國PhasicsSID4系列波前傳感器
—— ——四波橫向剪切干涉波前傳感器
法國Phasics SID4系列波前分析儀
產(chǎn)品介紹:法國Phasics SID4系列波前分析儀(屹持代理zhuanli號CN200780005898),基于其波前測量zhuanli——四波橫向剪切干涉技術(shù)(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。作為夏克-哈特曼技術(shù)的改進型,這種獨特的zhuanli技術(shù)將高分辨率和大動態(tài)范圍很好地結(jié)合在一起。能實現(xiàn)全面、簡便、快速的測量。
主要應用領(lǐng)域:
1. 激光光束參數(shù)測量:相位(2D/3D),M2,束腰位置,直徑,澤尼克/勒讓德系數(shù)
2. 自適應光學:焦斑優(yōu)化,光束整形
3. 元器件表面質(zhì)量分析:表面質(zhì)量(RMS,PtV,WFE),曲率半徑
4. 光學系統(tǒng)質(zhì)量分析:MTF, PSF, EFL, 澤尼克系數(shù), 光學鏡頭/系統(tǒng)質(zhì)量控制
5. 熱成像分析,等離子體特征分析
6. 生物應用:蛋白質(zhì)等組織定量相位成像
產(chǎn)品特點:
1. 高分辨率:采樣點可達120000個
2. 可直接測量:消色差設(shè)計,測量前無需再次對波長校準
3. 消色差:干涉和衍射對波長相消
4. 高動態(tài)范圍:高達500μm
5. 防震設(shè)計,內(nèi)部光柵橫向剪切干涉,對實驗條件要求簡單,無需隔震平臺也可測試
四波橫向剪切干涉技術(shù)背景介紹 Phasics四波橫向剪切干涉(屹持代理):當待測波前經(jīng)過波前分析儀時,光波通過特制光柵(圖1)后得到一個與其自身有一定橫向位移的復制光束,此復制光波與待測光波發(fā)生干涉,形成橫向剪切干涉,兩者重合部位出現(xiàn)干涉條紋(圖2)。被測波前可能為平面波或者匯聚波,對于平面橫向剪切干涉,為被測波前在其自身平面內(nèi)發(fā)生微小位移發(fā)生微小位移產(chǎn)生一個復制光波;而對于匯聚橫向剪切干涉,復制光波由匯聚波繞其曲率中心轉(zhuǎn)動產(chǎn)生。干涉條紋中包含有原始波前的差分信息,通過特定的分析和定量計算梳理(反傅里葉變換)可以再現(xiàn)原始波前(圖3)。
技術(shù)優(yōu)勢 1.高采樣點: 高達400*300個采樣點,具備強大的局部畸變測試能力,降低測量不準確性和噪聲;同時得到高精度強度分布圖。 2.消色差: 干涉和衍射相結(jié)合抵消了波長因子,干涉條紋間距與光柵間距相等。適應于不多波長光學測量且不需要重復校準。 3.可直接測量高動態(tài)范圍波前: 可見光波段可達500μm的高動態(tài)范圍;可測試離焦量,大相差,非球面和復曲面等測。
應用方向: 1. 光光束測量 可以實時測量強度相位(2D/3D)信息,Zernike/Legendre系數(shù),遠場,光束參數(shù),光束形狀M2等。
2. 光學測量 Phasics波前傳感器可對光學系統(tǒng)和元器件進行透射和反射式測量,專業(yè)Kaleo軟件可分析PSF,MTF等
3.光學整形: 利用Phasics波前傳感器檢測到精確的波前畸變信息,反饋給波前校正系統(tǒng)以補償待測波前的畸變,從而得到目標波前相位分布和光束形狀。右圖上為把一束RMS=1.48λ的會聚光矯正為RMS=0.02λ的準平面波;右圖下為把分散焦點光斑矯正為準高斯光束。高頻率大氣湍流自適應需要配合高頻波前分析儀。
4.光學表面測量: Phasics的SID4軟件可以直接測量PtV, RMS, WFE和曲率半徑等,可直接進行自我校準,兩次測量相位作差等。非常方便應用于平面球面等形貌測量。部分測量光路如右圖所示
5.等離子體測量 法國Phasics公司SID4系列等離子體分析儀(Plasma Diagnosis)是一款便攜式、高靈敏度、高精度的等離子體分析儀器。該產(chǎn)品可實時檢測激光產(chǎn)生的等離子體的電子密度、模式及傳播方式。監(jiān)測等離子體的產(chǎn)生、擴散過程,以及等離子體的品質(zhì)因數(shù)。更好地為客戶在噴嘴設(shè)計、激光脈沖的照度、氣壓、均勻性等方面提供優(yōu)化的數(shù)據(jù)支持。 |
|
| 會員級別:免費會員 |
| 加入時間:2025-09-24
|
|
|