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產品型號：型號:SCG
產品代碼：
產品價格：1.0
計量單位：套
折 扣 率： 0
最后更新：2018-05-03
關 注 度：5706
生產企業：深圳市鑫志尚電子有限公司
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產品詳細介紹低溫和高溫真空探針臺
SEMISHARE真空環境高低溫測試技術
以下兩個應用需要真空測試環境。
極低溫測試:
因為晶圓在低溫大氣環境測試時，空氣中的水汽會凝結在晶圓上，會導致漏電過大或者探針無法接觸電極而使測試失敗。避免這些需要把真空腔內的水汽在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運轉。
高溫無氧化測試：
當晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時，氧化現象會越來越明顯，并且溫度越高氧化越嚴重。過度氧化會導致晶圓電性誤差，物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內的氧氣在測試前用泵抽走，并且保持整個測試過程泵的運轉。
晶圓測試過程中溫度在低溫和高溫中變換，因為熱脹冷縮現象，定位好的探針與器件電極間會有相對位移，這時需要針座的重新定位，SEMISHARE針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動化針座來調整探針的位置。
SCG-C-4(閉循環)/SCG-O-4(開循環)特點：
載物Chuck 溫度范圍：4K-500K
外置4個定位針臂，預留2個
探針X-Y-Z三方向移動，行程：25.4mm，定位精度：10微米
最多可以外置6個定位針臂
載物chuck 最大可到8英寸
雙屏蔽chuck高低溫時達到100FA 的測試精度
針臂定位精度可以升級為0.7微米
可以選擇射頻配件做最高67 GHz的射頻測試
可以選擇防震桌
可以選擇超高真空腔體,極限真空到10-10 torr
客戶訂制
溫控規格:
控溫范圍
4K-500K
控溫精度
0.001K
溫度穩定性
4 K + - 0.1 K
77 K + - 0.1 K
373 K + - 0.08 K
473 K + - 0.1 K
823 K + - 0.2 K(可選)
973 K + - 1.0K(可選)
常溫到8K冷卻時間:
1小時40分鐘
8K到常溫升溫時間:
1小時30分鐘
從常溫開始的升溫時間
473K 823K 973K
(4 chuck，單位分：秒)
25:00 55:00 70:00
電源
直流
材質
SS304
功率(4chuck)
50/100W
機械規格
針座行程
X軸方向
25.4mm(1 inch)
可以選擇50.8mm
Y軸方向
25.4mm(1 inch)
可以選擇50.8mm
Z軸方向
25.4mm(1 inch)
可以選擇50.8mm
移動精度
X軸方向
10 micron
可以選擇0.35,0.7,5,10 or 20 micron
Y軸方向
10 micron
可以選擇0.35,0.7,5,10 or 20 micron
Z軸方向
10 micron
可以選擇0.35,0.7,5,10 or 20 micron
探針可旋轉角度(應用于射頻測試)
+-5 度
光學部件規格
顯微鏡X-Y軸方向行程
2"*2"
可以選擇4"*4"
總共放大倍率
240X
可以選擇更高倍率
真空腔觀察窗口
4 inch
外部石英材質99%紅外線穿過率
內部吸收紅外線僅可見光通過
光源
150W可連續調節
雙光纖導引
可選附件
防震桌
方形chuck
分子泵組
射頻部件
Chuck可外部移動裝置
客戶定制。 |
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| 會員級別：免費會員 |
| 加入時間：2017-01-11
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